Die Qualitätsanforderungen an die Automobilelektronik steigen mehr und mehr. Ein Ansatz diesem gerecht zu werden, besteht in der Verbesserung und Adaption der angewandten Methoden der statistischen Prozesssteuerung. Eine neue Entwicklung bildet die multivariate T²-Qualitätsregelkarte, die den thematischen Schwerpunkt in diesem Buch bildet.
Nach der Darstellung der entsprechenden Berechnungsvorschriften und Interpretationsansätze wird die T²-Qualitätsregelkarte anhand von zwei Fallstudien aus dem Bereich der mechanischen Bearbeitung sowie der Mikroelektronik-Lithographie näher analysiert. Der Fokus liegt dabei vor allem in der praktischen Anwendbarkeit unter industriellen Rahmenbedingungen. Es werden die jeweiligen Vorteile und Grenzen aufgezeigt, die ein differenzierteres Bild einer zukünftigen Anwendung aufzeigen.
Um den Transfer der Methode von der Wissenschaft in die Praxis weiter zu unterstützen, wird zusätzlich ein Leitfaden zur Implementierung entwickelt. Anhand dessen können beispielhaft an einer der Fallstudien die einzelnen Teilaufgaben nachvollzogen werden. Die Übertragbarkeit auch auf andere Prozesse wird dadurch gewährt, indem bewusst die Methodik in den Vordergrund gestellt wird. Der konkrete technologische Hintergrund der betrachteten Prozesse wird nur soweit wie notwendig dargestellt.

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